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신뢰성시험

반도체 신뢰성 시험

고온/저온 저장 시험 (HTS/LTS)

High/Low Temperature Storage Test (HTS/LTS), 고온/저온 저장 시험은 제품을 장시간 특정온도에 노출시켜 받는 영향을 평가하는 시험입니다.
High Temperature Storage Test (HTS)는 특정 온도에서 장시간 제품을 보관하여 신뢰성 영향을 평가할 뿐만 아니라 특정 신뢰성 시험 전 수분을 제거하기 위한 전처리 시험으로도 사용됩니다. 전기적인 스트레스 없이 고온 환경에서 제품의 변형이나 부식 등의 신뢰성 평가하고, 필요에 따라 제품에 Bias 를 인가하여 수명 등의 평가도 가능합니다.
Low Temperature Storage Test (LTS) 시험 또한 동일한 목적으로 시험을 진행하지만 저온의 환경에서 평가하는 점이 다릅니다.

장비

  • HTS
    제작사 및 모델명
    ESPEC | BTU-433
    장비 설명
    Interior Dimensions : W500 x D600 x H380
    High Temperature : 180℃
    Low Temperature : -20℃

시험 규격

  • JESD22-A103E.01

기술 및 서비스 문의

  • 시험기술팀 임동주 팀장
    Tel. 031-283-9678
    E-mail. dongju.lim@knal.co.kr