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신뢰성시험

반도체 신뢰성 시험

초가속스트레스 시험 (HAST)

Highly Accelerated Stress Test (HAST), 초가속스트레스 시험은 TH 시험과 동일하게 고온, 고습한 환경 스트레스를 인가하면서 짧은 시간 안에 전자부품에 대한
신뢰성을 평가하는 시험입니다.
TH 시험은 일반적으로 1,000시간 시험을 하는 반면, HAST 시험은 96~264시간 내 시험을 통해 결과물을 얻어 낼 수 있으며, 이를 통해 반도체 부품 내부의 금속 요소들의 부식이나
마이그레이션 등에 대한 내성 평가를 할 수 있습니다. 일반적으로 반도체 부품의 밀봉 상태가 좋지 않을 경우 해당 불량현상이 발생될 수 있습니다.

장비

  • HAST
    제작사 및 모델명
    HIRAYAMA | PR-422R8
    장비 설명
    Test chamber size : 420Φ x 657D mm (84.4 L)
    Effective chamber size : 340Φ x 475D mm(40 L)
    Temperature : 105.0 ℃ ~133.3 ℃ / 100 % R.H.
    110.0 ℃ ~ 140.0 ℃ / 85 % R.H.
    118.0 ℃ ~ 150.0 ℃ / 65 % R.H.
    Pressure : 0.019 Mpa ~ 0.208 Mpa
    Humidity : 65 % R.H. ~ 100 % R.H.

시험 규격

  • JESD22-A110, A118

기술 및 서비스 문의

  • 시험기술팀 임동주 팀장
    Tel. 031-283-9678
    E-mail. dongju.lim@knal.co.kr