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신뢰성시험

반도체 신뢰성 시험

고온/저온 동작수명 시험 (HTOL / LTOL)

High/Low Temperature Operating Life (HTOL / LTOL), 고온/저온 동작수명 시험은
반도체 부품에 요구되는 수명시간(일반적으로 1,000시간) 동안 일정한 스트레스에
노출하였을 때 정상적으로 동작하는지 확인하기 위한 신뢰성 시험입니다.
반도체부품의 사용시간 분포는 일반적으로 Bathtub Curve(욕조 곡선)로 표현하며, 구간은
오른쪽 이미지와 같이 “Infant Mortality (초기 고장 기간)” → “User Lifetime (우발 고장
기간)” → “Wear-out (마모 고장 기간)” 으로 구성 되어 있습니다. 급격하게 감소하는
초기고장 기간 동안의 불량율을 예측하기 위한 ELFR (Early Life Failure Rate)과 실제
우발고장 기간, 즉 사용기간 동안의 품질을 평가하기 위한 HTOL 로 구분되어 시험을
진행하며 일반적으로 10년 이상의 수명을 평가합니다.

장비

  • HTS
    제작사 및 모델명
    ESPEC | BTU-433
    장비 설명
    Interior Dimensions : W500 x D600 x H380
    Temperature Range : -20 ℃ ~ 180 ℃
  • PTC
    제작사 및 모델명
    다나기술 | Power Temperature Cycling
    장비 설명
    일반 환경 챔버를 사용하는 시험에서,
    제품에 규정되어 있는 전압,
    전류를 반복적으로 On/Off 할 수 있는 장비

시험 규격

  • JESD22-A108
  • AEC-Q100
  • JESD47

기술 및 서비스 문의

  • 시험기술팀 임동주 팀장
    Tel. 031-283-9678
    E-mail. dongju.lim@knal.co.kr